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详细信息
规格参数
技术数据
内置633 nm LED光源
测量最大半波(316 nm)的样品延迟和最大±90°的方位角
Ø20 mm视场
包含Windows®软件包(详见软件标签)
两种模式提供两种测量精确度范围:标准延迟范围和低延迟范围。标准延迟在0到316 nm的范围内提供±10 nm延迟测量精度,在整个测量范围内提供±3°方位角测量精度。低延迟在0到100 nm的范围内提供±1 nm延迟测量精度,在整个测量范围内提供±1°方位角测量精度。最短的曝光时间为0.021 ms,最长曝光时间为7330 ms。

下方为不同测量显示模式的用户界面截图。预览、1D、2D和3D视图都使用m = 2零级涡旋半波片获得。

双折射成像系统
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