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双折射成像系统

两种模式提供两种测量精确度范围:标准延迟范围和低延迟范围。标准延迟在0到316 nm的范围内提供±10 nm延迟测量精度,在整个测量范围内提供±3°方位角测量精度。

详细信息

规格参数

技术数据

  内置633 nm LED光源

  测量最大半波(316 nm)的样品延迟和最大±90°的方位角

  Ø20 mm视场

  包含Windows®软件包(详见软件标签)

  两种模式提供两种测量精确度范围:标准延迟范围和低延迟范围。标准延迟在0到316 nm的范围内提供±10 nm延迟测量精度,在整个测量范围内提供±3°方位角测量精度。低延迟在0到100 nm的范围内提供±1 nm延迟测量精度,在整个测量范围内提供±1°方位角测量精度。最短的曝光时间为0.021 ms,最长曝光时间为7330 ms。

双折射成像系统

  下方为不同测量显示模式的用户界面截图。预览、1D、2D和3D视图都使用m = 2零级涡旋半波片获得。

 

双折射成像系统

双折射成像系统

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